• 专利基本信息
  • 发明 2024103564527 一种芯片检测分选设备及分选方法

    未下证 芯片检测 半导体制造 自动化设备 芯片质量检测 测试芯片 2人

    H01L21/67 B07C5/02 B08B11/00 B08B1/12 B08B1/20 B08B1/36 B08B15/04

    • 联系人列表
    • 12-20
    • 12-10

    免责声明:以上消息未经人工确认,本平台不担保其真实性和有效性,交易前请仔细核实。

    • 专利摘要

    本发明公开了一种芯片检测分选设备及分选方法,属于芯片检测分选领域。一种芯片检测分选设备,包括电气柜、机械手、安装在机械手自由端的真空吸盘和工业相机,还包括:固定连接在电气柜上的输送架,所述输送架上滑动连接有输送框,所述输送框内转动连接有放置框。本发明通过连接软管的膨胀回缩,一方面能使得芯片到达翻面槽时,使得喷气管开始喷出气体,并且提高喷气管的喷气压力,使得喷气管吹出的高压气体作用在芯片下,能够使得芯片自动翻面对芯片的背面进行图像拍摄,实现了对芯片正反面的外观检测,另一方面利用连接软管的膨胀回缩,能够移动工业相机的位置,扩大工业相机的拍摄范围,提高对芯片的外观检测精度。

    • 专利生命周期
    专利申请:2024-03-27
    授权缴费截止日:2024-10-24
    最近更新时间:2024-12-24