发明 201910124555X 芯片同步测试方法、芯片、电子设备及存储介质 2022
已下证 电子信息 芯片技术 软件测试技术 存储技术 数据存储 1人
G01R31/3185
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本发明提供一种芯片同步测试方法、芯片、电子设备及存储介质。主芯片在接收到从芯片发送的测试运行请求后，向从芯片发送用于指示从芯片开始执行第一测试点对应的第一测试用例的第一测试运行响应，并在接收到从芯片发送的第一测试启动通知后，主芯片开始执行第一测试点对应的第二测试用例，其中第一测试运行请求包括第一测试点的编号。上述方法实现主从芯片的同步测试过程，提高了芯片间测试的效率。
