• 专利基本信息
  • 发明 2020112669591 移相补偿及相电流重构方法、芯片、电子设备及存储介质 2021

    已下证 电力电子技术 芯片设计 电子信息技术 1人

    H02P21/00 H02P21/14 H02P25/02 H02P25/022

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    • 12-05

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    • 专利摘要

    本发明实施方式涉及相电流采样技术领域,公开了一种移相补偿及相电流重构方法、芯片、电子设备及存储介质。相电流采样中的移相补偿方法包括:获取PWM波形的Ta、Tb、Tc;在(Tc–Ta)≥2*Tmin下,若(Tc–Tb)

    • 专利生命周期
    专利申请:2020-11-13
    授权缴费截止日:2025-12-15
    专利授权日:2021-04-16 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24