• 专利基本信息
  • 发明 2018110298886 指纹芯片测试方法及测试设备 2021

    已下证 电子信息 芯片技术 芯片测试 指纹处理 数据处理 2人

    H04B17/345 H04M1/67 G06F21/32

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    • 12-05
    • 08-26

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    • 专利摘要

    本发明实施例提供了一种指纹芯片测试方法及测试设备,其中,指纹芯片测试方法包括:控制射频发生设备和待测指纹芯片所在的移动设备对预设信道范围内的所有信道逐个进行通信连接,获取待测指纹芯片在每个信道下的指纹数据;根据获取的指纹数据,确定待测指纹芯片在每个信道下的通信干扰值,获得与所述所有信道对应的多个通信干扰值;从多个通信干扰值中确定最大通信干扰值,并将最大通信干扰值对应的信道确定为待测信道,对待测指纹芯片进行待测信道下的通信干扰测试。通过本发明实施例,可以保证指纹芯片测试的测试结果可以涵盖干扰最强情况下的指纹性能。

    • 专利生命周期
    专利申请:2018-09-05
    授权缴费截止日:2025-10-06
    专利授权日:2021-03-19 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24