发明 2018800001778 矩阵电容板及芯片测试方法 2021
已下证 电容检测技术 芯片测试 2人
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提供一种矩阵电容板及芯片测试方法，矩阵电容板，包括：多条第一信号线、多条第二信号线，设置在各条第一信号线与各条第二信号线的相交处的电容形成的电容矩阵，电容矩阵中包括至少两种电容；芯片测试方法包括，矩阵电容板的电容矩阵中设置至少两种容值的电容，从而能够模拟正常状态(即未触摸状态)和触摸状态的功能，并且能够基于矩阵电容板的该功能实现对芯片的不同性能状况的测试。
