• 专利基本信息
  • 实用 2023227821266 一种可防静电的芯片测试架 2024

    已下证 1人

    G01R1/04 G01R31/28

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    • 专利摘要

    本实用新型公开了测试装置技术领域的一种可防静电的芯片测试架,包括支撑板、伸缩杆、连接块、第一活动板、第二活动板和控制器,所述伸缩杆位于所述支撑板的上侧,所述连接块固定连接在所述伸缩杆的输出端,所述第一活动板固定连接在所述支撑板的底部,所述第二活动板滑动连接在所述第一活动板的底部,所述控制器位于所述支撑板的左上侧,所述伸缩杆的外侧壁套接有复位弹簧,所述连接块的内侧壁粘接有保护块,该可防静电的芯片测试架,实现了芯片测试架的防静电,有利于对芯片的保护,提高了芯片测试架实际使用时的效果,便于操作人员调节芯片夹持后的位置,减少了操作人员的工作负担,有利于芯片测试架实际使用时的效率。

    • 专利生命周期
    专利申请:2023-10-17
    专利授权日:2024-11-05 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24