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符合条件的19条专利数据 更新时间

实用 2023230358015 一种电气元件检测平台

已下证 电气元件 电子设备 电路检测 电气元件 电子设备 电路检测 1人

G01R31/28 G01R1/04

实用 2024201948481 一种线路板通断电检测设备

已下证 电路板 线路板 电子元器件 半导体 1人

G01R31/28 G01R31/54 G01R1/04

实用 2023218250631 一种芯片检测卡座

已下证 1人

G01R1/04 G01R31/28

实用 202323563701X 一种PCB电路板检测用治具

已下证 1人

G01R31/28 G01R1/04

实用 2023227002077 一种处理器主板用测试装置

已下证 1人

G01R31/28 G01R1/04

实用 2023227821266 一种可防静电的芯片测试架

已下证 1人

G01R1/04 G01R31/28

实用 2024204399823 一种电路板生产加工用检测设备

已下证 2人

G01R31/28 G01R19/00 G01R1/04 G01R1/02 B08B5/02

发明 2021111352964 一种人工智能电路板检测装置

未下证 电路板检测 电子元器件 人工智能 电子元件 电子 1人

G01R31/28 B07C5/344 B07C5/36

发明 2024100687169 一种连续式集成电路测试系统及其测试方法

未下证 集成电路测试系统 5人

G01R31/28

发明 2018800020143 测试系统

已下证 测试技术 系统设计 性能评估 质量控制 1人

G01R31/28 G01R31/67

发明 2019108215038 一种半导体芯片分选测试装置的上料输送装置及其工作方法

已下证 集成电路 高端装备 上料装置电子制造 转盘式高速测试分选 1人

G01R31/28 G01R31/01 B07C5/02

发明 2018800001778 矩阵电容板及芯片测试方法

已下证 电容检测技术 芯片测试 2人

G01R31/28

发明 2016100745456 数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法

已下证 数据采集 芯片设计 测试系统 半导体和芯片制造 通信设备与电子设备 3人

G01R29/26 G01R31/28

发明 2017800013268 上电复位时间的测量方法及系统

已下证 时间测量 系统稳定性 电源管理 3人

G01R31/00 G01R31/28

发明 2017800000874 用于测试指纹芯片的装置和方法

已下证 指纹芯片测试 测试装置 测试方法 质量控制 3人

G01R31/28

发明 2016101260522 一种芯片性能测试方法、装置及系统

已下证 芯片测试 性能测试 测试装置 测试系统 半导体制造与质量控制 3人

G01R31/28

发明 201880000261X 波形信号检测方法及装置

已下证 信号检测 检测装置 信号处理 2人

G01R31/28

发明 2016101882732 基于矩阵电容板的触控芯片测试系统及其测试方法

已下证 触控技术 测试系统 测试方法 3人

G01R31/28

发明 2015104977392 一种基于分组测试向量之间的近似兼容性压缩方法

已下证 集成电路 测试技术 测试压缩 芯片 4人

G01R31/28