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一种上电复位时间(T(P))的测量方法及系统，涉及电路技术领域。上电复位时间(T(P))的测量方法包括：检测待测芯片的电源脚电压，将电源脚电压达到预设电压的时间点，记为第一时间点(T1)(101，201)；检测待测芯片的预设管脚的输出信号，将预设管脚在待测芯片上电后第一次完成脉冲输出的时间点，记为第二时间点(T2)，并将预设管脚在待测芯片上电后第二次完成脉冲输出的时间点，记为第三时间点(T3)(102，202)；其中，第一次输出的脉冲与第二次输出的脉冲的宽度相同；根据第一时间点(T1)、第二时间点(T2)和第三时间点(T3)计算得到待测芯片的上电复位时间(T(P))(103，203)；相应的上电复位时间(T(P))的测量系统能够较为准确的测量上电复位时间，提高了上电复位电路的验证效率。
