• 专利基本信息
  • 发明 2016100745456 数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法 2020

    已下证 数据采集 芯片设计 测试系统 半导体和芯片制造 通信设备与电子设备 3人

    G01R29/26 G01R31/28

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    • 12-05
    • 10-15
    • 08-26

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    • 专利摘要

    本发明公开了一种数据采集芯片的测试装置及其控制方法,该装置包括:接收数据采集芯片采集的多帧采样数据的数据采集模块;存储模块;计算多个数据采样点的噪声,以得到噪声测试结果的处理模块;将所述噪声测试结果上传的数据收发模块;控制模块。本发明实施例的测试装置,通过计算多个数据采样点的噪声,从而只需上传噪声测试结果,提高了芯片测试的效率,降低了芯片测试的成本,更好地保证测试的可靠性。本发明还公开了一种数据采集芯片的测试系统。

    • 专利生命周期
    专利申请:2016-02-02
    授权缴费截止日:2025-03-03
    专利授权日:2020-05-22 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24