• 专利基本信息
  • 实用 2023227002077 一种处理器主板用测试装置 2024

    已下证 1人

    G01R31/28 G01R1/04

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    • 专利摘要

    本实用新型公开了一种处理器主板用测试装置,涉及测试装置技术领域,包括测试装置本体与测试主体;所述测试装置本体的顶面安装有测试台,所述测试台的顶面开设有呈矩阵布置的插装孔,所述插装孔内可拆卸插装有定位柱;所述插装孔内安装有与定位柱电性连接的接地线。本实用新型公开了,通过设置的测试台、定位柱、接地线、定位销与压紧结构,可以根据主板的尺寸等情况,调整定位销在测试台上插装的位置,可以方便主板位置的固定,接地线可以通过定位柱将主板上的静电导地消除,压紧结构可以将主板压紧在测试台上,可以确保主板在测试时的稳定性,减少主板在测试过程中出现偏动,同时其结构相对较小,不会妨碍到测试本体的测试作业。

    • 专利生命周期
    专利申请:2023-10-09
    专利授权日:2024-11-01 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24