发明 2020111001094 一种 LED 紫外芯片质量的评价方法 2022
已下证 LED芯片 LED封装 (LED芯片 LED封装) 2人
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本发明涉及一种LED紫外芯片质量的评价方法,该评价方法利用紫外线对硅胶的分解作用,在硅胶和芯片的接触面形成碳化,碳化的图像即展示了芯片的热量、紫外线分布情况,碳化图形分布越均匀,且碳化程度越小,说明芯片质量越好;反之,碳化图形分布不均匀,且碳化越明显,说明芯片质量越差,由于本发明提供的LED紫外芯片质量的评价方法仅需几个小时的测试就能够判断出LED紫外芯片的相对质量,相对于现有的测试方法大大节省了实验周期。