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  • 专利基本信息

    • 发明 2020108543745 一种LED 芯片质量的评价方法 2022

    已下证 LED芯片 LED封装 （LED芯片 LED封装） 2人

    G01R31/44 G01M11/00

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    • 专利摘要

    本发明涉及一种LED芯片质量的评价方法，该评价方法通过测试待评价芯片在不同温度、不同驱动电流下的光参数来拟合出第一趋势线以及第二趋势线，通过第二趋势线的拟合公式即可判断出不同芯片的相对质量，极大程度的降低了测试周期。

    • 专利生命周期
    专利申请：2020-08-24
    授权缴费截止日：2024-09-24
    专利授权日：2022-05-17 00:00:00.0
    最近更新时间：2024-12-24
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