• 专利基本信息
  • 发明 2016108187782 测量治具及测量方法 2020

    已下证 2人

    G01B21/00 G01B21/20

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    • 10-15

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    • 专利摘要

    本发明涉及一种测量治具及测量方法,测量治具包括支撑台,所述支撑台用于承载待测量工件;第一活动块和第二活动块,所述第一活动块、第二活动块分别活动设置在所述支撑台的邻接的两个侧壁,所述第一活动块、第二活动块分别可沿水平方向调节与所述支撑台之间的距离;多个限位件,设置在所述支撑台、第一活动块及第二活动块的顶面,用于对所述待测量工件卡持定位。上述测量治具,由于支撑台的侧壁活动设置有可调节距离的第一活动块和第二活动块,可以在支撑台上对不同尺寸规格的产品进行测量,整体结构简单、装夹便捷,测量效率高,成本低,能适应对不同产品进行快速测量的要求,通用性高。

    • 专利生命周期
    专利申请:2016-09-12
    授权缴费截止日:2024-10-14
    专利授权日:2020-01-10 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24