• 专利基本信息
  • 发明 2019111740977 测量通道选择方法及装置 2021

    已下证 电子测量 测试参数 信号测试 2人

    G01R13/00 G01R31/00 G01R1/02

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    • 专利摘要

    本发明涉及电子测量技术领域,特别是涉及一种测量通道选择方法及装置。该方法包括:当检测到触发器发送触发信号时,确定触发信号对应的目标测试通道,并启动计数器对触发信号进行计数;启动计时器进行计时,并在计时器的计时时间达到预设的计数时间时,获取计数器中当前的计数值;判断计数值是否为测试数值;若计数值为测试数值,则开启目标测试通道,并设置目标测试通道对应的目标波形曲线的测试参数,该测试参数用于测试该目标波形曲线。应用该方法,通过触发器的触发信号实现对目标波形曲线设置测试参数的过程,无需技术人员在经过点击菜单栏后从菜单栏中选择需要设置测试参数的测试通道,节约设置测试参数的时间,提高技术人员的工作效率。

    • 专利生命周期
    专利申请:2019-11-26
    授权缴费截止日:2024-12-26
    专利授权日:2021-05-14 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24