• 专利基本信息
  • 发明 2018107206732 一种激光波长测量装置及其标定方法、测量方法 2024

    已下证 测量技术 激光波长测量 激光干涉仪 高精度测量仪器 PDH稳频技术 3人

    G01J9/00

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    • 12-05
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    • 专利摘要

    一种激光波长测量装置及其标定方法、测量方法。本发明涉及一种激光波长测量装置及其测量方法,所述激光波长测量装置包括棱镜、光电探测器与处理系统,所述棱镜用于接收激光,且使入射的激光发生折射后射出,所述光电探测器用于接收发生折射后的激光,并测量其入射位置,所述处理系统用于根据光电探测器接收到的激光的入射位置变化量,计算出被测激光的波长。本发明利用棱镜对不同波长的激光折射角不同的原理,结合光电探测器即可获得激光波长,本发明测量装置结构简单,成本低,测量精度较传统方法有显著提高。

    • 专利生命周期
    专利申请:2018-07-02
    授权缴费截止日:2024-03-20
    专利授权日:2024-08-27 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24