• 专利基本信息
  • 实用 2024200251827 一种光敏电阻检测设备 2024

    已下证 电阻器 半导体 光敏电阻 电阻检测 电阻器 半导体 光敏电阻 电阻检测 1人

    G01R31/01 G01R1/04

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    • 专利摘要

    本实用新型公开了一种光敏电阻检测设备,涉及光敏电阻检测技术领域,包括固定环,所述固定环的上表面固定连接有固定板,所述固定板的一侧设置有滑动机构,所述滑动机构的下方设置有转动板,所述转动板的上表面与固定板滑动连接,所述转动板的内壁设置有固定机构,所述固定机构的下方设置有检测器本体。本实用新型设计结构合理,它能够通过使光敏电阻接收不同强度和不同距离的光线,达到了对单个光敏电阻进行多次不同光照强度检测的效果,同时可以同时对九个光敏电阻进行检测,达到了可以同时检测多个光敏电阻的效果,从而解决了现有技术只能单个进行多次测试,无法同时对多个进行不同光照强度的测试,效率较差的问题。

    • 专利生命周期
    专利申请:2024-01-05
    专利授权日:2024-10-29 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24