• 专利基本信息
  • 发明 2023115301000 光电产品性能检测设备 2024

    已下证 电子 光电 检测 3人

    G01R31/26 G01R1/04

    • 联系人列表
    • 12-04
    • 08-20
    • 08-16

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    • 专利摘要

    本发明涉及光电产品的技术领域,特别是涉及光电产品性能检测设备,其结构简单,在二极管进行测试时,减轻测试人员对二极管正极引线和负极引线进行复位的工作量,减轻劳动强度,提高测试效率;包括:测试台,测试台开设用于放置二极管外壳的凹槽,测试台的两侧均滑动设置有复位机构;测试台的底端通过调节机构设置有用于对二极管进行居中的居中机构;测试台的中部设置有压紧机构,测试台的两端设置有气缸一,气缸一输出端固定有测试片。

    • 专利生命周期
    专利申请:2023-11-16
    专利授权日:2024-12-10 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-25