• 专利基本信息
  • 发明 201610620605X 一种有序硅纳米孔道薄膜/氧化铟锡电极电化学检测铅离子的方法 2018

    已下证 食品检测监测 食品重金属检测 电化学检测 食品安全 4人

    G01N27/48

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    • 专利摘要

    本发明公开了一种有序硅纳米孔道薄膜/氧化铟锡电极电化学检测铅离子的方法,包括以下步骤:(1)将待检样品与缓冲液混合得到pH值为3.6~6.0的待测液;(2)以有序硅纳米孔道薄膜/氧化铟锡电极作为工作电极,恒电压法富集待测液中的铅离子,富集电压为‑0.8V~‑0.6V;(3)将完成富集的电极置于空白的pH值为3.6~6.0的缓冲液中,利用微分脉冲伏安法测得峰电流值,根据标准曲线计算待检样品中的铅离子浓度;所述微分脉冲伏安法扫描的起始电位为‑0.95V~‑0.65V,终止电位为‑0.4V~0.5V。本发明检测方法可实现对痕量铅离子的检测,在实际样品的检测尤其是生物复杂样品的检测中具有潜在应用价值。

    • 专利生命周期
    专利申请:2016-07-29
    授权缴费截止日:2025-08-29
    专利授权日:2018-10-26 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-25