• 专利基本信息
  • 发明 201811631532X 一种二极管性能检测设备上带废料剔除的定位导轨 2020

    已下证 1人

    G01R31/26 B07C5/344

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    • 专利摘要

    本发明公开了一种二极管性能检测设备上带废料剔除的定位导轨,包括竖直的C型导轨,C型导轨两侧相对的内壁上成型有竖直的限位沟槽,限位沟槽靠近的C型导轨开口一侧的侧壁上成型有锥形的定位槽,C型导轨的后侧壁上插接有与定位槽相对的顶料板,顶料板固定在顶料气缸的活塞杆上,顶料气缸固定在顶料气缸支架上,顶料气缸支架固定在C型导轨的后侧壁上;定位槽前侧的C型导轨侧壁上成型有插孔,插孔内插设有标记件,标记件固定在标记气缸的活塞杆上,标记气缸固定在标记气缸支架上,标记气缸支架固定在C型导轨的外侧壁上。本发明可以对肖特基二极管中的次品进行有效剔除,输送过程中,肖特基二极管的针脚隐藏在导轨内,导轨可以对肖特基二极管进行保护。

    • 专利生命周期
    专利申请:2018-12-29
    专利授权日:2020-11-20 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24