• 专利基本信息
  • 发明 2021113446646 一种实验仪器缺陷识别分类方法及系统 2022

    已下证 实验仪器管理 实验仪器缺陷检测 实验仪器管理/实验仪器检测 实验仪器管理/实验仪器缺陷检测 3人

    G06T7/00 G06T7/10 G06T5/00 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08

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    • 12-05
    • 08-26
    • 08-26

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    • 专利摘要

    本发明公开了一种实验仪器缺陷识别分类方法及系统,涉及实验仪器管理领域,包括:获取实验仪器的超声图像信息,基于卷积神经网络建立缺陷检测模型,根据所述缺陷检测模型判断实验仪器是否存在缺陷信息,进行第一分类;根据所述缺陷信息对含有缺陷的实验仪器进行评估,生成评估得分,根据所述评估得分确定缺陷等级信息;根据所述缺陷等级信息对含有缺陷的实验仪器进行第二分类,并根据第二分类结果生成缺陷标签信息;根据所述缺陷等级信息确定含有缺陷的实验仪器的使用寿命,并将所述使用寿命信息写入所述缺陷标签信息。本发明中通过缺陷检测模型对实验仪器进行缺陷检测并分类,消除了实验仪器含有内部缺陷而造成的潜在危险。

    • 专利生命周期
    专利申请:2021-11-15
    授权缴费截止日:2024-12-16
    专利授权日:2022-02-08 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-24