• 专利基本信息
  • 发明 2016100100140 一种缺陷关联系数的度量方法 2018

    已下证 2人

    G06F11/36

    • 联系人列表
    • 12-23
    • 08-01

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    • 专利摘要

    本发明公开了一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型;步骤二:计算缺陷的数据相似度;步骤三:计算缺陷间的耦合度;步骤四:根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数;步骤五:根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。本发明计算出了两个直接关联缺陷间的缺陷关联系数,准确度高;设计了一种基于缺陷传递的缺陷关联系数的简单路径调整算法,实现对缺陷关联系数矩阵的动态更新。

    • 专利生命周期
    专利申请:2016-01-06
    专利授权日:2018-08-21 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-25