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本发明公开了一种电子元件的测试方法及系统，涉及电子元件测试技术领域，该方案的技术要点为：通过待测电子元件在不同频率下的电压值和电流值，计算待测电子元件在不同频率下的阻抗值和导纳值，将阻抗值或导纳值以及对应的频率结合，计算获得阻抗值或导纳值随频率变化的斜率，进一步计算获得待测电子元件的性能稳定系数，通过输入信号幅度和输出信号幅度，计算出待测电子元件的信号衰减指数，进一步计算获得待测电子元件的性能衰减系数，通过性能稳定系数和性能衰减系数，计算获得电子元件的性能评估值，本发明实现对电子元件低费用、快速度、准确和无损伤的测试，从而评估电子元件的可靠性和稳定性。
