• 专利基本信息
  • 发明 2021107271432 一种逐次逼近型电容检测电路 2023

    已下证 电路本身通用 电路检测 集成电路 芯片检测 3人

    H03M1/38

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    • 专利摘要

    本发明公开了一种逐次逼近型电容检测电路,包括阶梯计数器模块,上下两个计数器分别接收待测电压与其反相值,以逐次逼近的方式输出四位数码以控制电流开关阵列。电流阵列,其耦接与异步计数器的四位输出,对升压电阻进行充电,以输出逐次逼近后的电压值。比较模块,由比较器接收来自待测电容的充电电压与电流开关阵列输出进行比较,输出作为下一次计数器的选用信号进行再次比较以达到逐次逼近的目的,该电路使用的比较器对工艺及工作温度不敏感,因此能够避免在不同工作温度时过压保护阈值的变化或受芯片制造过程中工艺角的影响,从而提高过压保护功能的可靠性;采用开环比较器能够增强整体运行速度,并且有效的提升了增益。

    • 专利生命周期
    专利申请:2021-06-29
    授权缴费截止日:2025-07-29
    专利授权日:2023-11-10 00:00:00.0
    最近更新时间:2024-12-25